WAYOUT-QC-08元器件檢驗細則
綜合能力考核表詳細內(nèi)容
WAYOUT-QC-08元器件檢驗細則
1目的 為了確保產(chǎn)品質(zhì)量,防止具有明顯缺陷的元器件進入生產(chǎn)過程,特制定本檢驗細則。 2適用范圍 該檢驗細則規(guī)定了外購的元器件的檢驗要求和步驟。適用于北京威奧特信通科技有限 公司產(chǎn)品研發(fā)部所承擔的硬件開發(fā)、設備研制、生產(chǎn)項目所用元器件的檢驗。 3職責 3.1項目組負責提出對元器件的檢驗要求,屬常規(guī)檢驗的,填寫元器件檢驗登記表,交產(chǎn) 品研發(fā)部檢驗員檢驗;對需進行篩選的,送元器件檢測中心進行篩選。 3.2產(chǎn)品研發(fā)部檢驗員負責實施檢驗工作,填寫檢驗記錄并進行檢驗狀態(tài)的標識。 4檢驗總要求 4.1對無特殊要求的元器件只進行常規(guī)檢驗。 4.2 對只需進行常規(guī)檢驗的集成電路,若無相應的檢驗設備但可插入插座的,可插入試驗 樣機的插座上進行功能試驗,試驗環(huán)境須經(jīng)產(chǎn)品研發(fā)部檢驗員認可,由產(chǎn)品研發(fā)部檢 驗員判定檢驗結果并填寫檢驗記錄。 4.3 對有明確篩選要求或可靠性要求的元器件,由項目組編寫元器件篩選大綱,送元器件 檢測中心進行篩選。 5常規(guī)檢驗 常規(guī)檢驗是指通過目檢、常溫功能測試來排除被檢元器件明顯缺陷的一種檢驗手段。 常規(guī)檢驗按以下步驟進行: 5.1對送檢的元器件進行目檢,檢驗的內(nèi)容包括元氣器件的有效期、有無斷裂銹蝕、標 識是否清淅。 5.2對電阻器用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù),主要參數(shù)有:額定值、精度 5.3對電容器用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)。主要參數(shù)有:額定值、耐壓、精度 。 5.4對電感線圈用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)。主要參數(shù)有:額定值、精度。 5.5對晶體管用晶體管測試儀器測量,主要參數(shù)有:放大倍數(shù)、耐壓。 5.6對集成電路用集成電路測試儀進行功能檢驗,在試驗樣機平臺上進行篩選時,累計 工作時間為12小時。 6 環(huán)境應力篩選 對需要進行環(huán)境應力篩選的元器件,由項目組編寫元器件篩選大綱,送元器件檢測中 心進行篩選。 7 檢驗結果的處理 7.1檢驗員將測試的結果填寫在《元器件檢驗表》中。 7.2若其中一項指標不合格或沒通過,即判為不合格品。 7.3對檢驗合格的產(chǎn)品進行標識。 8 引用文件 |序 號 |名 稱 |編 號 | |1 |電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指 |GJB/Z 34 | | |南 | | |2 |電子測量儀器環(huán)境試驗總綱 |GB 6487.1 | 9 記錄 |序 號 |名 稱 |模 板 編 號 | |1 |元器件檢驗表 |WAYOUT-QF-64 |
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1目的 為了確保產(chǎn)品質(zhì)量,防止具有明顯缺陷的元器件進入生產(chǎn)過程,特制定本檢驗細則。 2適用范圍 該檢驗細則規(guī)定了外購的元器件的檢驗要求和步驟。適用于北京威奧特信通科技有限 公司產(chǎn)品研發(fā)部所承擔的硬件開發(fā)、設備研制、生產(chǎn)項目所用元器件的檢驗。 3職責 3.1項目組負責提出對元器件的檢驗要求,屬常規(guī)檢驗的,填寫元器件檢驗登記表,交產(chǎn) 品研發(fā)部檢驗員檢驗;對需進行篩選的,送元器件檢測中心進行篩選。 3.2產(chǎn)品研發(fā)部檢驗員負責實施檢驗工作,填寫檢驗記錄并進行檢驗狀態(tài)的標識。 4檢驗總要求 4.1對無特殊要求的元器件只進行常規(guī)檢驗。 4.2 對只需進行常規(guī)檢驗的集成電路,若無相應的檢驗設備但可插入插座的,可插入試驗 樣機的插座上進行功能試驗,試驗環(huán)境須經(jīng)產(chǎn)品研發(fā)部檢驗員認可,由產(chǎn)品研發(fā)部檢 驗員判定檢驗結果并填寫檢驗記錄。 4.3 對有明確篩選要求或可靠性要求的元器件,由項目組編寫元器件篩選大綱,送元器件 檢測中心進行篩選。 5常規(guī)檢驗 常規(guī)檢驗是指通過目檢、常溫功能測試來排除被檢元器件明顯缺陷的一種檢驗手段。 常規(guī)檢驗按以下步驟進行: 5.1對送檢的元器件進行目檢,檢驗的內(nèi)容包括元氣器件的有效期、有無斷裂銹蝕、標 識是否清淅。 5.2對電阻器用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù),主要參數(shù)有:額定值、精度 5.3對電容器用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)。主要參數(shù)有:額定值、耐壓、精度 。 5.4對電感線圈用元件參數(shù)測量儀器測量其主要參數(shù)。主要參數(shù)有:額定值、精度。 5.5對晶體管用晶體管測試儀器測量,主要參數(shù)有:放大倍數(shù)、耐壓。 5.6對集成電路用集成電路測試儀進行功能檢驗,在試驗樣機平臺上進行篩選時,累計 工作時間為12小時。 6 環(huán)境應力篩選 對需要進行環(huán)境應力篩選的元器件,由項目組編寫元器件篩選大綱,送元器件檢測中 心進行篩選。 7 檢驗結果的處理 7.1檢驗員將測試的結果填寫在《元器件檢驗表》中。 7.2若其中一項指標不合格或沒通過,即判為不合格品。 7.3對檢驗合格的產(chǎn)品進行標識。 8 引用文件 |序 號 |名 稱 |編 號 | |1 |電子產(chǎn)品定量環(huán)境應力篩選指 |GJB/Z 34 | | |南 | | |2 |電子測量儀器環(huán)境試驗總綱 |GB 6487.1 | 9 記錄 |序 號 |名 稱 |模 板 編 號 | |1 |元器件檢驗表 |WAYOUT-QF-64 |
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